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美國進口,專為造紙行業設計的高性能分光光度計
可以測量白度、黃度等多種紙張參數,精度非常高
漫射d/0°光學幾何結構及符合ISO 2469標準的可調UV鏡
Datacolor-Elrepho450X白度儀

Datacolor Elrepho 450X 白度儀 愛爾夫新款白度儀 分光光度計 專業測量紙張白度/黃度/不透明度(Datacolor 德塔)

名稱:Elrepho 450X 白度儀

品牌:Datacolor 德塔(美國)

 

介紹:

Datacolor ELREPHO是一款專為造紙業所設計的高性能分光光度計,非常適合用于基準實驗室

可對造紙和涂料制造過程中所用紙漿、紙張和化學品的色彩、亮度、不透明性、黃度及白度進行生產控制

這款雙光束分光光度計采用了漫射d/0°光學幾何結構及符合ISO 2469標準的可調UV鏡

 

特點:

1、應用簡便,有利于提高工作流效率

縱向配置及貫穿球體的樣本觀察窗簡化了送樣和對齊操作,由此提高了測量吞吐量

2、儀器附帶了三個光圈擋片

SAV和USAV擋片可用于準確測量樣本的小區域和極小區域

對于求取不規則和粗糙樣本的平均值而言,則建議使用XLAV擋片

3、可向后兼容

可兼容之前的Elrepho 3000系列,盡可能縮小供應鏈中所有儀器的臺間差

本儀器還附帶了Datacolor SP 2000分光光度計,包括:接近D65的耐用脈沖氙燈光源、自動變焦鏡頭和三波長可調式自動UV鏡,用于控制光源中的UV組件

 

參數:

功能

Elrepho 450X

儀器種類

雙光束分光光度計

光學幾何測量

漫射照明和0°視界

照明光源

脈沖氙燈,D65濾鏡

球徑

152 毫米/ 6.0 英寸

光譜分析器

SP2000分析器,256個雙陣列光電二極管與高分辨率全息光柵

波長范圍

360納米到700納米

輸出間距

10 納米

有效帶寬

10 納米

波長分辨率

2 納米

測光范圍

0 to 200%

亮度分辨率

0.00%

黑筒

高性能

采用雙閃光20次測量白磚讀數重復性 (CIELAB公制)

最大0.02

儀器間數據差異 1 (CIELAB公制)

最大0.4,平均0.2

鏡頭

3 位自動變焦

XLAV 孔徑擋板

34 毫米照射和30毫米測量

SAV 孔徑擋板

9 毫米照射和5毫米測量

USAV 孔徑擋板

6.5 毫米照射和2.5毫米測量

自動紫外控制

紫外線截止濾波器對熒光樣品的自動紫外線校準為395納米, 420納米和460納米

垂直安裝

包括窺孔樣本查看器和基座試樣架

高度

640 毫米 / 25 3/16 英寸

寬度

312 毫米 / 12 5/16 i英寸

深度

371 毫米 / 14 5/8 英寸

重量

19.05 千克 / 42 磅

電源要求

85 to 264 交流電壓, 47 to 63 赫茲,

絕對操作范圍

5°to 40°C, 5% to 85% 非冷凝相對濕度

界接口

RS-232 9600/19200 波特

配置

六腳頭電源線,兩端各有接口的串口線,USB數據線,黑筒,白色瓷磚,綠色瓷磚,
    孔徑隔板:超大孔徑 (XLAV),小孔徑 (SAV),微小孔徑 (USAV)

 

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產品詳細介紹
發布時間:2020-04-03 06:00
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